Alle producten
  • SINO AGE DEVELOPMENT TECHNOLOGY, LTD.
    Paul Frame
    Dank u zeer voor al uw hulp betreffende het Concrete de Hamer en de hardheidsmeetapparaat van SADT die goed werken en wij zijn zeer tevreden met het.
Contactpersoon : Hu
Telefoonnummer : 010-82600228
China Nauwkeurig de Ruwheidsmeetapparaat van de Stabiliteitsoppervlakte, het Handbediende Instrument van de Ruwheidsmaatregel

Nauwkeurig de Ruwheidsmeetapparaat van de Stabiliteitsoppervlakte, het Handbediende Instrument van de Ruwheidsmaatregel

Het meten van Waaier: Z (Verticale) As: 320μm (Ra=80μm)
Normen: ISO, ANSI, DIN, JIS
Filter: RC, PC-RC, Gauss, DP
China Het Meetapparaatmicro op batterijen van de Oppervlakteruwheid die voor het Controleren van Oppervlakteruwheid wordt verwerkt

Het Meetapparaatmicro op batterijen van de Oppervlakteruwheid die voor het Controleren van Oppervlakteruwheid wordt verwerkt

Maximumnaaldkracht: 15.0mN/1500mgf
Sensortype: piëzo-electrisch
tonen: 3 cijfer LCD
China ANSI 2RC van de de Oppervlakteruwheid van Filterroughscan Draagbare het Meetapparaat Piezo Elektrische Sonde

ANSI 2RC van de de Oppervlakteruwheid van Filterroughscan Draagbare het Meetapparaat Piezo Elektrische Sonde

Vertoning: 3-cijfer LCD
Resolutie: 0.01μm/1μ“
Sensortype: Piezoelectric
China SR110 de Ruwheidsmeetapparaat van de zakoppervlakte met Gastheer/Sensorintegratieontwerp

SR110 de Ruwheidsmeetapparaat van de zakoppervlakte met Gastheer/Sensorintegratieontwerp

Herhaalbaarheid: Minder dan 12%
Voeding: 3.7V ingebouwde lithium-polymeer batterij
Garantie: 1 jaar
China 6mm Dwars van de de Oppervlakteruwheid van de Lengtezak het Meetapparaatgb/t Norm 3505-2009

6mm Dwars van de de Oppervlakteruwheid van de Lengtezak het Meetapparaatgb/t Norm 3505-2009

Het meten van waaier: Ra: 0.05μm10.0μm, Rz: 0.1μm50μm
Parameters: Ra, Rz, Rq, Rechts
Normen: GB/T 3505-2009
China Handbediende Stabiele het Meetapparaat Hoge Nauwkeurigheid van de Oppervlakteruwheid voor Winkelvloer

Handbediende Stabiele het Meetapparaat Hoge Nauwkeurigheid van de Oppervlakteruwheid voor Winkelvloer

Het meten van waaier: Z (Verticale) As: 320μm (Ra=80μm); X (Horizontale) As: 17.5mm
Parameters: Ra, Rq, Rz, Rechts
Normen: ISO, ANSI, DIN, JIS
China 3 cijferlcd Ruwe van het de Ruwheidsmeetapparaat Ansi2rc van de Aftasten Draagbare Oppervlakte de Filter Piezo Elektrisch

3 cijferlcd Ruwe van het de Ruwheidsmeetapparaat Ansi2rc van de Aftasten Draagbare Oppervlakte de Filter Piezo Elektrisch

Sondetype: piezoelectric
Maximumnaaldkracht: 15.0mN/1500mgf
normen: De normen van ISO en DIN-
China Het digitale Draagbare Automatische de Ruwheidsmeetapparaat van de Metaaloppervlakte schakelt met Hoge Nauwkeurigheid uit

Het digitale Draagbare Automatische de Ruwheidsmeetapparaat van de Metaaloppervlakte schakelt met Hoge Nauwkeurigheid uit

Het meten van waaier: Z (Verticale) As: 320μm (Ra=80μm); X (Horizontale) As: 17.5mm
Parameters: Ra, Rq, Rz, Rechts
Normen: ISO, ANSI, DIN, JIS
China Piezoelectric Sonde 3 Digitaal LCD Draagbaar Ruwheidsmeetapparaat voor Laboratorium

Piezoelectric Sonde 3 Digitaal LCD Draagbaar Ruwheidsmeetapparaat voor Laboratorium

Sondetype: piezoelectric
Maximumnaaldkracht: 15.0mN/1500mgf
normen: De normen van ISO en DIN-
China 3 - Cijferlcd Piezo Elektrische Draagbare Meetapparaat van de Oppervlakteruwheid voor Laboratorium

3 - Cijferlcd Piezo Elektrische Draagbare Meetapparaat van de Oppervlakteruwheid voor Laboratorium

Maximumnaaldkracht: 15.0mN/1500mgf
Snijd af: 0.8mm/0.30“, ANSI 2RC Filter
Resolutie: 0.01μm/1μ“
1 2