• SINO AGE DEVELOPMENT TECHNOLOGY, LTD.
    Paul Frame
    Dank u zeer voor al uw hulp betreffende het Concrete de Hamer en de hardheidsmeetapparaat van SADT die goed werken en wij zijn zeer tevreden met het.
Contactpersoon : Hu
Telefoonnummer : 010-82600228

De Hardheidsmeetapparaat van TFT Leeb met Kabelsonde en Draadloze Sonde

Plaats van herkomst Peking
Merknaam SADT
Certificering CE ISO9001 SGS
Modelnummer HARTIP3210
Min. bestelaantal 1pc
Prijs USD400-1400/Pcs
Verpakking Details standaardpakket
Levertijd Binnen één week na het ontvangen van betaling
Betalingscondities T/T VOORAF, Western Union
Levering vermogen 50pcs/week

Contacteer me voor vrije steekproeven en coupons.

Whatsapp:0086 18588475571

wechat: 0086 18588475571

Skype: sales10@aixton.com

Als u om het even welke zorg hebt, verstrekken wij de online-Help van 24 uur.

x
Productdetails
Taal taal 10 Vertoning De grote kleur LCD van TFT met pixel 320 x 240
Nauwkeurigheid +/2 HLD Testend materiaal 11 metaalmaterialen
Principe De meting van de Leebhardheid Sonde kabelsonde en draadloze sonde
r/f communicatie afstand 10m in ruimte Garantie 1 jaar
Certificaat CE/ISO9001/SGS Naam leeb hardheidsmeetapparaat
Hoog licht

het draadloze meetapparaat van de sonde leeb hardheid

,

de hardheidsmeetapparaat van de kabelsonde leeb

,

tft leeb hardheidsmeetapparaat

Laat een bericht achter
Productomschrijving

Draagbaar Rockwell-Hardheidsmeetapparaat Nauwkeurig voor Metaalmaterialen HARTIP3210

HARTIP 3210 is een nieuwe generatie van hardheidsmeetapparaat met geavanceerdere technologie en eigenschappen. Het meetapparaat past onze nieuwe octrooitechnologie toe die het meetapparaat dan oud vorig model nauwkeuriger maakt. Al effectapparaat (sonde) is geen behoefte aan de richting van het opstellingseffect. Het werk van HARTIP 3210can met zowel het apparaat van het analogieeffect als draadloos rf sondeert.


De het meten waarden kunnen aan PC en printer door radio of door kabel worden gedownload.


HARTIP3210 kan ook door USB-voeding zonder batterij via PC-kabel worden aangedreven.

 

MEETMETHODE

 

Het het meten principe van HARTIP-de meetapparaten van de reekshardheid wordt gedefinieerd als „quotiënt van de de reactie en het effectsnelheid van het effectlichaam, met 1000.“ wordt vermenigvuldigd die Een effectlichaam met een de testuiteinde van het Wolframcarbide wordt aangedreven door de lentekracht tegen de testoppervlakte en terugkaatst dan terug. Een permanente magneet is bevat binnen het effectlichaam. Wanneer het door de rol op effectapparaat overgaat, veroorzaakt het een elektrisch voltage dat aan de snelheid van het effectlichaam evenredig is.

 

ZEER BELANGRIJKE EIGENSCHAPPEN

 

  • Draadloos digitaal/kabel analoog compatibel systeem
  • Geen behoefte aan richting van het opstellings de verschillende effect
  • Hogere nauwkeurigheid at+/-2 HLD
  • De grote kleur LCD van TFT met pixel 320 x 240
  • Veelkleurige stijl – geschikt onder zonneschijn
  • Multiweergavemodus - statistieken, grafiek, enz.
  • Multi sparen wijze voor gegevens
  • Multistatistiekenberekening
  • Druk online en de printout van het het schermexemplaar
  • Correcte herinnering
  • Echte datum en tijd
  • Recalibration voor verenigde of individuele schaal
  • Exploitant, artikelnummer, procedure geen verslag

 

Specificaties

 

Model SADT HARTIP 3210
Principe De meting van de Leebhardheid
Nauwkeurigheid ±0.3% @ HL=800, Herhaalbaarheid: ±2HL
Vertoning 2.8“ 320 x 240 TFT kleur LCD - fittable onderzonneschijn
Hardheidsschaal HL/HRC/HRB/HB/HV/HS/HRA/ΣB
Het meten van waaier HL100-960/HRC0.9-83.2/HRB1-140/HB1-1878/HV1-1698/
HS0.5-1370/HRA1-88.5/σb (rm) 16599N/mm ²
Sonde r/f draadloze sonde D/standaardkabelsonde D
Gelijkstroom/D+15/C/G/E/(Facultatieve) DL
Materialen 11 gemeenschappelijke metaalmaterialen, 60 omzettingskrommen
Geheugen 63 dossiers, 100 gegevens voor elk dossier, kunnen worden opgeslagen en re-leesbaar
Statistiekenfunctie Enige groepsanalyse -- beteken, max., min., extreme afwijking,
standaarddeviatie, coëfficiënt van welving, coëfficiënt van schuinte,
percenten van pas, kolomdiagram, de test van de normaliteitsdistributie en
eenvormige distributietest
Dubbele groepsanalyse-- significante verschiltest voor gemiddelde waarde,
standaarddeviatie, percenten van pas en distributie
Re-calibration Kaliberbepaling voor verenigde of individuele schaal
Indicator Bovengrens/Ondergrens/lage batterij/zoemerwaarschuwing/datum en tijd
Taal Engelse, Vereenvoudigde Chinese, Traditionele Chinees, Rus,
Koreaans, Frans, Italiaans, Duits, Turks, Spaans
Mededeling USB/RS232/Bluetooth/2.4G-(Facultatieve) radio
Ononderbroken werktijd >40 uren
Voeding 1.5V alkalische batterij x van aa 4/1.2V rechargerable nikkel-waterstof
batterij x 4/3.7VLi-ionen navulbare batterij x 4/USB voeding
Werkomgeving -10~+45ºC
Afmeting (mm) 195x84x38
Netto gewicht (G) 550
Normen In overeenstemming zijnd met ASTM A956, DIN 50156, GB/T 17394-199

 

 

Vereisten met betrekking tot steekproefgewicht

  • Voor steekproeven die meer dan 5 kg en compacte vorm wegen, is geen steun nodig.
  • De steekproeven die tussen 2-5 kg, en ook voor zwaardere steekproeven met vooruitstekende delen of dunne muren wegen, zouden op een stevige steun moeten worden geplaatst zodanig dat zij zich niet buigen of door de effectkracht bewegen.
  • De steekproeven die minder dan 2 kg wegen zouden stevig aan een stabiele steun moeten worden gekoppeld die meer dan 5 kg wegen.
  • Voor koppelingsdoeleinden,
    • De koppelingsoppervlakte tussen de steekproef en de grondplaat zou vlakke, vliegtuigparallel en grond moeten zijn.
    • Een juiste dunne laag van koppelingsdeeg moet op de contactoppervlakte van de steekproef worden toegepast.
    • De steekproef zou stevig tegen de grondplaatoppervlakte moeten worden gedrukt door het met een cirkelmotie te bewegen.
    • De richting van effect zou aan de koppelingsoppervlakte loodrecht moeten zijn.
  • Voor de koppelingsverrichting, moeten de volgende eerste vereisten worden vervuld:
    • De contactoppervlakte tussen de steekproef en de grondplaat moet vlakke, vliegtuigparallel en grond zijn.
    • De richting van het testeffect moet aan de gekoppelde oppervlakte loodrecht zijn.
    • De minimumdikte van de steekproef voor koppeling onder diverse effectapparaten wordt getoond in het volgende van lijst:

 

Types van effectapparaten Minimumdikte
D/DC, D+15, DL, E 3mm
G 10mm
C 1mm

 

 

 

De Hardheidsmeetapparaat van TFT Leeb met Kabelsonde en Draadloze Sonde 0De Hardheidsmeetapparaat van TFT Leeb met Kabelsonde en Draadloze Sonde 1

 

De Hardheidsmeetapparaat van TFT Leeb met Kabelsonde en Draadloze Sonde 2

De Hardheidsmeetapparaat van TFT Leeb met Kabelsonde en Draadloze Sonde 3

De Hardheidsmeetapparaat van TFT Leeb met Kabelsonde en Draadloze Sonde 4

De Hardheidsmeetapparaat van TFT Leeb met Kabelsonde en Draadloze Sonde 5